Интерференционные пятна

Можно было бы также определить смещение из кривых интенсивности интерференции, снятых с помощью фотометра. Однако до сих пор не исследовалось, достигается ли при этом необходимая точность, если интерференции сильно размыты, как это имеет место для большинства сильно деформированных материалов. Если, напротив. деформации не превышают известного предела, то как на рентгенограммах растянутой меди, интерференции еще хорошо поддаются измерению. Определение собственных напряжений или напряжений от нагрузки в этом случае, как уже упомянуто, возможно с достаточной точностью.

Позволяет одновременно обнаружить принципиальную разницу между собственно остаточными напряжениями и скрытоупругими. При растяжении вовсе не возникает остаточных напряжений, однако развиваются сильные скрытоупругие напряжения. Последние всегда увеличиваются со степенью деформации, приблизительно в соответствии с возрастанием предела текучести, в то время как остаточные напряжения зависят от совсем иных условий деформирования.

Тем не менее в обоих случаях речь идет о действительных собственных напряжениях, к которым применимо это понятие из механики. Особенно ясно это проявляется в том, что величина скрыто- упругих напряжений падает с повышением температуры но тому же закону, как и величина собственно остаточных напряжений, т. е. значительно ранее упрочнения. При достаточно высоком отпуске интерференции поэтому становятся вновь резкими.

В последнее время при помощи рентгеновых лучей было установлено еще одно изменение решетки, которое далеко не укладывается в понятие о напряжении. Речь идет об измерении интенсивности рентгеновских линий с деформацией; это явление объясняется как неравномерное удаление атомов от их положений равновесия в решетке. Какое значение имеет этот физический процесс, пока не ясно; возможно, что это давно искомое изменение кристаллической решетки, которым следует объяснить упрочнение.

Необходимо упомянуть еще об одном крайне интересном рентгеновском эффекте, который возникает при деформировании кристалла.

Интерференционные пятна на снимке неподвижного монокристалла с неискаженной решеткой при применении смешанного рентгеновского света (непрерывного излучения) представляют просто отражение пучка лучей от плоских кристаллических поверхностей, т. е, могут быть, смотря по форме диафрагмы, круглыми, четырехугольными и т. д. Бели, напротив, кристалл деформирован, то эти пятна Лауэ вытягиваются в приблизительно радиальные полосы. Этот аффект можно хорошо объяснить вращением отражающих лучи кристаллических поверхностей друг относительно друга. Напротив, этот астеризм не дает никаких указаний о наличии напряжений в кристалле; поэтому все попытки, направленные к объяснению этим путем напряжений, следует признать безрезультатными. С другой стороны, следует ожидать, что более точные исследования астеризма приведут к весьма ценным заключениям относительно кристаллографического механизма деформации.